Beim Einsatz von Prozessanalysenmessgeräten müssen die technischen Daten beachtet werden, um sicherzustellen, dass das Gerät für die entsprechende Anwendung geeignet ist. Die nun überarbeitete Namur-Empfehlung NE 61 "Datenblatt für Prozessanalysengeräte" dient der einheitlichen Darstellung der technischen Daten von Prozessanalysenmessgeräten in der Herstellerdokumentation (Bedienungsanleitung, Datenblatt). Dies erlaubt dem PAT-Planer, auf Basis der Anforderungen der jeweiligen Anwendung, Gerätemodelle mit geeigneten technischen Daten zu finden. Liegen die technischen Daten eines Prozessanalysenmessgerätes nicht in dieser Form vor, so können sie durch den PAT-Planer beim Hersteller mit Hilfe des Datenblattes angefragt werden. Die Namur-Empfehlung erläutert zunächst die Begrifflichkeit der einzelnen technischen Daten wie zum Beispiel Kennlinienübereinstimmung, Hysterese, Wiederholgrenze, Drift und Nachweisgrenze. Auch die häufig verwechselten Begriffe Justierung und Kalibrierung werden erklärt. Der Anhang enthält das eigentliche Datenblatt, nach dessen Muster die technischen Daten anzugeben sind.
Die Empfehlung kann ab sofort bei der Geschäftsstelle der Namur bezogen werden.
Halbleiterversorgung: TU München stellt EU-weit ersten 7-Nanometer-Chip her
An der TU München (TUM) ist der EU-weit erste KI-Chip mit moderner 7-Nanometer-Technologie entstanden. Prof. Hussam Amrouch entwickelte den neuromorphen Chip auf Grundlage des Standards des weltweit führenden Chip-Produzenten TSMC. Künftig will der Professor für KI-Prozessor-Design zusammen mit seiner Forschungsgruppe jährlich mindestens drei neue Designs entwerfen, die ab 2028 von der European Semiconductor Manufacturing Company (ESMC) in Dresden gefertigt werden sollen.
