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Prozessgeeignete Temperaturprofilmessungen mit faseroptischen Methoden

Thema:

Publikationsform: Fachartikel
Artikelnummer: 03654_2008_03_02
Ausgabe: 03
Zeitschrift: Prozessgeeignete Temperaturprofilmessungen mit faseroptischen Methoden
Erscheinungsdatum: 01.03.2008
Autor: Peter Seefeld/Endress+Hauser Wetzer GmbH &Co. KG
Verlag: DIV Deutscher Industrieverlag GmbH
Seiten: 5
Publikationsformat: PDF
Sprache: Deutsch
Themenbereich: atp edition

Details

Faseroptische Temperaturmessverfahren bieten einen Lösungsansatz zur Messung von Temperaturprofilen, deren Erfassung gemäß der Anforderungsbewertung aus der GMA-NAMUR Technologie-Roadmap von 2005 ein beachtliches Nutzenpotential darstellt.Intrinsische faseroptische Temperatur-Messverfahren werden vorgestellt, die als Raman-OTDR-Verfahren (Optical Time Domain Reflektometrie) Ortsauflösungen im Dezimeterbereich gestatten. Eine dafür konzipierte Photon-Counting-OTDR-Messvorrichtung besteht aus mechanisch relativ robusten faseroptischen Komponenten mit referenzierter Laserdiode, 3 dB-Koppler sowie Y-Koppler mit integriertem Bandenfilter und Avalanche-Empfangsdioden.

Preis: 4,90 €Zum Shop

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