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Lokalisierung und Analyse von Fehlerquellen beim numerischen SIL-Nachweis

Themen: | |

Publikationsform: Fachartikel
Artikelnummer: 03654_2008_02_04
Ausgabe: 02
Zeitschrift: Lokalisierung und Analyse von Fehlerquellen beim numerischen SIL-Nachweis
Erscheinungsdatum: 01.02.2008
Autor: Daniel Düpont/TU Kaiserslautern / Lothar Litz/TU Kaiserslautern / Pirmin Netter/Infraserv GmbH &Co. Höchst KG
Verlag: DIV Deutscher Industrieverlag GmbH
Seiten: 6
Publikationsformat: PDF
Sprache: Deutsch
Themenbereich: atp edition

Details

Im Rahmen einer Risikobetrachtung wird jeder PLT-Schutzeinrichtung ein Safety Integrity Level (SIL) zugewiesen. Ein Bewertungskriterium ist hierbei ihre Ausfallwahrscheinlichkeit bei Anforderung (Probability of Failure on Demand, PFD). Man berechnet die PFD einer PLT-Schutzeinrichtung basierend auf den Ausfallraten ihrer Komponenten (Sensoren, Ventile, etc.). Insbesondere das Fehlen verlässlicher Daten auf Komponentenebene verursacht erhebliche Probleme. Diese Unzulänglichkeit führt im Ergebnis meist nicht zu einem scharfen PFD-Wert sondern zu PFD-Bandbreiten. Um sich für einen Wert zu entscheiden, der dem tatsächlichen Ausfallverhalten in Anlagen der chemischen und pharmazeutischen Prozessindustrie entspricht, wurde von der NAMUR eine Felddatenerhebung ins Leben gerufen. Diese bescheinigt der PFD-Berechnung für den Einzelkreis derzeit gravierende Defizite, deren Ursachen zu lokalisieren und analysieren sind.

Preis: 4,90 €Zum Shop

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